+86-18822802390

Klassificering og struktur af læsemikroskoper

Jul 08, 2025

Klassificering og struktur af læsemikroskoper

 

1. Direkte læse-læsemikroskop: Skalaen på linjalen er delvist forstørret af objektivlinsen og afbildet på skillepladen. Hvis linjeafstanden er 1 millimeter, er forstørrelsen lig med afstanden på 100 delinger på skillepladen, og deleværdien på 0,01 millimeter kan aflæses gennem okularet (forstørrelse).


2. Mærkning af mobilt læsemikroskop: Under målingen drejes mikrobevægelseshåndhjulet for at justere de dobbeltgraverede linjer på den bevægelige skilleplade med linjebilledet af linjalen. Aflæs percentilen og percentilen fra læsetromlen eller anden læsemekanisme, og aflæs decilen fra den bevægelige skilleplade. For at undgå slid på præcisionsgevindene (eller andre mikromekanismer) på mikrobevægelseshåndhjulet laver nogle mikroskoper de dobbeltgraverede linjer på den bevægelige skilleplade til dobbelte arkimediske spirallinjer (c i figuren). Stigningen af ​​den dobbelte arkimediske spiral er lig med 1/10 af linealens linjeafstand ganget med forstørrelsen af ​​objektivlinsen, og der er 100 ligeligt opdelte inddelinger indgraveret på dens indre ring. Derfor kan decilerne efter justering af linjemønsteret aflæses fra den faste skilleplade, og percentilerne og tusindedele kan aflæses fra den bevægelige skilleplade.


3. Billedmobilt læsemikroskop: et bevægeligt optisk element (såsom plan parallelt glas, kileglas eller kompenserende linse) tilføjes mellem objektivlinsen og sigtekorset. Når sådanne optiske komponenter flyttes, vil linjebilledet af linjelinealen flytte sig. Efter justering af linjebilledet med de dobbeltgraverede linjer på den faste skilleplade, kan værdierne af decilerne, percentilerne og tusindedele aflæses fra henholdsvis den faste skilleplade og den bevægelige skilleplade.


Princippet om læsemikroskop
For det første skal du udføre nuljustering og justere den roterende møtrik for at justere markeringslinjen med fuldskalalinjen på X--aksen. Den roterende møtrik er opdelt i 50 gitre, hvert gitter er 0,01 mm. Mærkningen er på glasplade A, og X--aksen er på glasplade B. Når nuljusteringen er fuldført, skal du bruge en hårdhedstester til at lave en fordybning på emnet. Kraften F påført af hårdhedstesteren og diameteren D af stålkuglen. Juster den roterende møtrik, så kontakten, der er forbundet med møtrikken, skubber glasstykket A til at bevæge sig i X--aksens retning, og det er tangent til fordybningen to gange. Der er en fjederforbindelse mellem glasstykke A og kontakten, som frit kan udvide sig og trække sig sammen. Afstanden tilbagelagt af markeringslinjen kan aflæses gennem et mikroskop, som er diameteren af ​​fordybningen. På grund af fordybningens uregelmæssige form skal arbejdsemnet dog roteres 90 grader og måles igen for at tage gennemsnitsværdien.
 

4 Microscope Camera

Send forespørgsel