Forskelle i anvendelse mellem opretstående og omvendte metallografiske mikroskoper
Forskellen mellem opretstående og omvendt er simpelthen, at den opretstående prøve er placeret under, og den omvendte prøve er placeret over. Det opretstående objektiv vender nedad, og det omvendte objektiv vender opad.
Omvendt metallografisk mikroskop, på grund af det faktum, at prøvens observationsflade falder sammen med overfladen af arbejdsbænken, og observationsmålet er placeret under arbejdsbænken til opadgående observation, er denne observationsform ikke begrænset af prøvens højde. Ved forberedelse af prøven er kun én observationsflade flad, så den bruges almindeligvis i fabrikslaboratorier, videnskabelige forskningsinstitutioner og universiteter til undervisning. Basen af det omvendte metallografiske mikroskop har et stort støtteområde, et lavt tyngdepunkt og er stabil og pålidelig. Okularet og støttefladen vippes 45 grader, hvilket gør observation behagelig.
Det opretstående metallografiske mikroskop har de samme grundlæggende funktioner som det omvendte metallografiske mikroskop. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30 mm, er det mere udbredt i gennemsigtige, semi-gennemsigtige eller uigennemsigtige materialer, fordi det er i overensstemmelse med menneskers daglige vaner. Et opretstående metallografisk mikroskop danner et positivt billede under observation, hvilket bringer stor bekvemmelighed til brugerens observation og diskrimination. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30mm, observationsmål større end 3 mikron, men mindre end 20 mikron, såsom overfladestruktur og spor af materialer såsom cermets, elektroniske chips, trykte kredsløb, LCD-substrater, tynde film, fibre, granulerede genstande, belægninger osv. kan alle have gode billedeffekter.
