Forskelle i applikationer mellem opretstående metallografiske mikroskoper og omvendte metallografiske mikroskoper
Forskellen mellem opretstående og omvendt er simpelthen, at den opretstående prøve er placeret under, og den omvendte prøve er placeret over. Den opretstående objektivlinse vender nedad, og den omvendte objektivlinse vender opad.
Inverteret metallografisk mikroskop bruges almindeligvis i fabrikslaboratorier, videnskabelige forskningsinstitutioner og universiteter, fordi prøvens observationsoverflade falder sammen med overfladen af arbejdsbordet, og observationsmålet er placeret under arbejdsbordet, mens man observerer opad. Denne observationsform er ikke begrænset af højden af prøven, og kun én observationsflade er flad, når prøven forberedes. Den omvendte metallografiske mikroskopbase har et stort støtteområde, et lavt tyngdepunkt og er stabil og pålidelig. Okularet og støttefladen vippes 45 grader for behagelig observation.
Det opretstående metallografiske mikroskop har de samme grundlæggende funktioner som det omvendte metallografiske mikroskop. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30 mm, er det mere udbredt brugt til gennemsigtige, semi-gennemsigtige eller uigennemsigtige stoffer, fordi det er i overensstemmelse med menneskers daglige vaner. Det opretstående metallografiske mikroskop giver et positivt billede under observation, hvilket i høj grad letter brugerens observation og identifikation. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30 mm kan observation af mål større end 3 mikron og mindre end 20 mikron, såsom metalkeramik, elektroniske chips, trykte kredsløb, LCD-substrater, film, fibre, granulære genstande, belægninger og andre materialer opnå gode billedeffekter på deres overfladestrukturer og spor.
