Emissivitet Introduktion af infrarødt termometer
Emissivitet er forholdet mellem strålingsenergien fra et faktisk objekt og et sort legeme ved samme temperatur under de samme forhold. De såkaldte samme forhold refererer til de samme geometriske forhold (strålingsemissionsområde, rumvinkelstørrelse og retning til måling af strålingseffekt) og spektralforhold (spektralområde til måling af strålingsflux). Da emissivitet er afhængig af måleforholdene, er der flere emissivitetsdefinitioner.
Hemisfærisk emissivitet Hemisfærisk emissivitet er forholdet mellem den strålingsenergiflux (strålingsoutput), der udsendes af radiatoren pr. arealenhed, og det halvkugleformede rum og strålingsoutputtet fra det sorte legeme ved samme temperatur, som er opdelt i to typer: fuld mængde og spektral mængde.
normal emissionsevne
Normal emissivitet er emissiviteten målt inden for en lille rumvinkel i normalretningen af den udstrålende overflade, og det er forholdet mellem udstrålingen i normalretningen og udstrålingen af et sort legeme ved samme temperatur. Da infrarøde systemer detekterer strålingsenergi inden for en lille rumvinkel vinkelret på måloverfladen, er normal emissivitet vigtig.
For en sort krop er alle emissivitetsværdier lig med 1, mens for rigtige objekter er alle emissivitetsværdier mindre end 1. Den emissivitet vi taler om indtil videre er den gennemsnitlige emissivitet.
Med hensyn til emissivitetskorrektion:
Emissiviteten af forskellige objektoverflader er forskellig, for at sikre nøjagtigheden af temperaturmålingen er emissivitetskorrektion generelt påkrævet. Da termometeret er kalibreret med en sort krop, er overfladeemissiviteten af ethvert objekt mindre end for en sort krop.
Emissivitetskorrektionsmetoden for det infrarøde termometer er: juster forstørrelsen af forstærkeren i henhold til emissiviteten af forskellige objekter, så signalet genereret af strålingen fra et faktisk objekt med en bestemt temperatur i systemet er det samme som det genererede signal af en sort krop med samme temperatur. For eksempel, hvis emissiviteten af et objekt er {{0}}.8, er det nødvendigt at øge forstærkerens forstørrelse til den oprindelige 1/0.8=1.25 gange. På det industrielle område er det generelt vanskeligt at bestemme målemissionsparametrene på grund af de forskellige målmaterialer, former og overfladetilstande. Målefejl forårsaget af andre faktorer vil forårsage forskellen mellem den målte værdi og den reelle værdi. Indførelsen af emissivitetsparameterjustering kan løse dette problem godt uden at påvirke målingens linearitet. Den kan justeres i henhold til følgende trin baseret på erfaringstemperatur eller procestemperatur:
For eksempel: termometerets måleområde er: 500-1400 grad
Den reelle temperatur er 1200 grader, den målte temperatur er 1150 grader,
På dette tidspunkt kan emissivitetsparameteren justeres som:
(1150-500)÷(1200-500)=0.928≈0.93
Denne justering gør den målte værdi tættere på den reelle værdi, og kan også justeres ved at henvise til "Material Emissivity Coefficient Tabel". Men parametrene i denne tabel er ikke nødvendigvis anvendelige til procesbehov. Det skal være klart, at essensen introduceret af emissivitetsjusteringen er at rette målefejlen.
