Faktorer, der påvirker transmissionselektronmikroskopopløsning
Fine strukturer mindre end 0.2µm kan ikke ses tydeligt under et optisk mikroskop. Disse strukturer kaldes submikroskopiske strukturer eller ultramikroskopiske strukturer.
strukturer; ultrastrukturer). For at se disse strukturer klart skal der vælges en lyskilde med en kortere bølgelængde for at øge mikroskopets opløsning. I 1932 opfandt Ruska transmissionselektronmikroskopet (TEM) med en elektronstråle som lyskilde. Bølgelængden af elektronstrålen er meget kortere end synligt lys og ultraviolet lys, og bølgelængden af elektronstrålen er omvendt proportional med kvadratroden af spændingen af den udsendte elektronstråle. , det vil sige, jo højere spænding, jo kortere bølgelængde. Den aktuelle opløsning af TEM kan nå 0.2nm.
Billedprincipperne for elektronmikroskoper og optiske mikroskoper er grundlæggende de samme. Forskellen er, at førstnævnte bruger elektronstråler som lyskilde og elektromagnetiske felter som linser. Da den gennemtrængende kraft af elektronstråler er meget svag, skal prøver, der anvendes til elektronmikroskopi, desuden laves i ultratynde snit med en tykkelse på omkring 50 nm. Denne slags skive skal laves med en ultramikrotom. Forstørrelsen af et elektronmikroskop kan nå op til næsten en million gange. Det består af fem dele: elektronisk belysningssystem, elektromagnetisk linsebilledsystem, vakuumsystem, optagelsessystem og strømforsyningssystem. Hvis nedbrudt: hoveddelen er den elektroniske linse og billedoptagelse Systemet består af en elektronkanon, kondensator, prøvekammer,
Objektiv linse, diffraktionslinse, mellemlinse,
Projektionsspejle, fluorescerende skærme og kameraer.
Et elektronmikroskop er et mikroskop, der bruger elektroner til at afsløre det indre eller overflade af et objekt.
Bølgelængden af højhastighedselektroner er kortere end synligt lys (bølge-partikel-dualitet), og opløsningen af et mikroskop er begrænset af den bølgelængde, det bruger, så opløsningen af et elektronmikroskop (ca. 0). 1 nanometer) er meget højere end for et optisk mikroskop (ca. 200 nm).
