+86-18822802390

Belysningsteknikker, der almindeligvis anvendes i metallografisk mikroskopi

Apr 22, 2023

Belysningsteknikker, der almindeligvis anvendes i metallografisk mikroskopi

 

1. Direkte belysning: Lyset rettes direkte mod objektet for at opnå et klart billede. Denne type lys er meget effektiv, når vi skal have genstande med høj kontrast. Men når vi bruger det til at skinne på lyse eller reflekterende objekter, vil det forårsage spejlende refleksioner.


2. Mørkt felt: Lys projiceres på overfladen i en vinkel, og resultatet er skrå astigmatisme, der bevæger sig hen til kameraet og skaber lyse pletter på en mørk baggrund eller synsfelt. Med denne belysningsmetode kan der ikke ses noget gennem det visuelle system, hvis der ikke er nogen farveforskel på objektets overflade. Begge observationsmetoder er normalt udstyret i metallografiske mikroskoper.


3. Bagsidebelysning: Lys fra objektets bagside med et ensartet synsfelt, og objektets sideprofil kan ses gennem kameraet. Bagsidebelysning bruges ofte til at måle størrelsen og orienteringen af ​​objekter.


4. Diffus belysning: reflekterende belysning, der giver et ikke-retningsbestemt, blødt lys som hårde skygger, som er mest velegnet til stærkt reflekterende genstande. På grund af denne lyseffekt sammenligner vi dette lys med et fredeligt, ikke-retningsbestemt lys på en overskyet dag.


5. Koaksial belysning: Det koaksiale lys danner en ensartet overfladelyskilde, der udsendes i lodret retning, og gennem et semi-transparent spejl med en 45-graders vinkel oplyser lyskilden objektets overflade lodret nedad. måde. Denne type lyskilde er især nyttig til at inspicere stærkt reflekterende plane objekter.


Ansøgningsfelter:


Autodele, hydraulisk smøring, lejer, motorer, dampturbiner, luftfart, halvledere, datalagring, medicinsk udstyr, kommunikation, præcisionsinstrumenter, slidovervågning af stort industri- og mineudstyr og andre industrier.


Systemoversigt Procesdesign, mere intuitiv betjening
1. Den enkle grænseflade giver dig en problemfri betjeningsoplevelse


2. Overhold ISO16232, VDA19, ISO4406, ISO4407 standarder, understøtter brugerdefinerede standard ISO 16232 måleparametre - caliper diameter definition: den lange afstand mellem to parallelle omskrevne lige linjer af partikler.


3. Baggrundskalibrering
Da ujævnheden af ​​belysningskilden kan føre til mørke rande omkring billedet, hvilket påvirker den overordnede billedkvalitet, kan baggrundskalibreringsfunktionen effektivt undgå dette problem.


4. Automatisk fotooptagelse, billedsyning
Scanningsprocessen fotograferes og gemmes automatisk, og fremskridtene er synlige i realtid; fotooplysningerne gemmes i databasen for nem forespørgsel. Giver synsfelt-billedgennemsyn og kontrolfunktion.


5. Statistik, modifikation og diversificeret resultatvisning
Systemet identificerer automatisk partikler, tæller automatisk partikelparametre, analyserer automatisk partikeltyper og understøtter modifikation af partikler. En række værktøjer til resultatvisning leveres.


6. Automatisk identifikation af metalpartikler, ikke-metalpartikler, fibre
Systemet identificerer automatisk partikler og kan samtidigt tjekke ikke-metalliske partikler, metalpartikler og fibre ud. Tre typer partikler kontrolleres og klassificeres. Det understøtter indstilling af de kvalificerede intervaller for forskellige partikler. Understøtter tilpasning af de kendetegnende indstillinger for de tre partikler.

 

4 Microscope

Send forespørgsel