Introduktion til scanningselektronmikroskopfunktioner
Scanning elektronmikroskop (SEM) er et stort præcisionsinstrument, der bruges til højopløsningsmikroområdemorfologianalyse. Det har karakteristika af stor dybdeskarphed, høj opløsning, intuitiv billeddannelse, stærk følelse af tredimensionalitet, bredt forstørrelsesområde og evnen til at rotere og vippe testprøven i tredimensionelt rum. Derudover har den fordelene ved en lang række målbare prøvetyper, næsten ingen skade eller forurening af den originale prøve og evnen til samtidig at opnå morfologi, struktur, sammensætning og krystallografisk information. På nuværende tidspunkt er scanningselektronmikroskopi blevet meget brugt i mikroskopisk forskning inden for områder som biovidenskab, fysik, kemi, retfærdighed, geovidenskab, materialevidenskab og industriel produktion. Alene inden for geovidenskab omfatter det krystallografi, mineralogi, mineralforekomster, sedimentologi, geokemi, gemologi, mikrofossiler, astrogeologi, olie- og gasgeologi, ingeniørgeologi og strukturel geologi.
Selvom scanningselektronmikroskopi er en nykommer i mikroskopfamilien, er dens udviklingshastighed meget hurtig på grund af dens mange fordele.
Instrumentet har en høj opløsning og kan observere detaljer på omkring 6nm på overfladen af prøven gennem sekundær elektronbilleddannelse. Ved at bruge en LaB6 elektronkanon kan den forbedres yderligere til 3nm.
Instrumentet har en bred vifte af forstørrelsesændringer og kan justeres løbende. Derfor kan forskellige størrelser af synsfelter vælges til observation efter behov, og klare billeder med høj lysstyrke, som er svære at opnå med generel transmissionselektronmikroskopi, kan også opnås ved høj forstørrelse.
Dybdeskarpheden og synsfeltet for prøven er store, og billedet er rigt på tredimensionel forstand. Den kan direkte observere ru overflader med store bølger og ujævne metalbrudbilleder af prøven, hvilket giver folk en følelse af at være til stede i den mikroskopiske verden.
Forberedelsen af de 4 prøver er enkel. Så længe blok- eller pulverprøverne er let behandlet eller ikke behandlet, kan de observeres direkte under et scanningelektronmikroskop, som er tættere på stoffets naturlige tilstand.
5. Billedkvaliteten kan effektivt kontrolleres og forbedres gennem elektroniske metoder, såsom automatisk vedligeholdelse af lysstyrke og kontrast, korrektion af prøvehældningsvinkel, billedrotation eller forbedring af billedkontrasttolerance gennem Y-modulation, samt moderat lysstyrke og mørke i forskellige dele af billedet. Ved at bruge en dobbelt forstørrelsesanordning eller billedvælger kan billeder med forskellige forstørrelser observeres samtidigt på den fluorescerende skærm.
6 kan underkastes en omfattende analyse. Installer et bølgelængdedispersivt røntgenspektrometer (WDX) eller energidispersivt røntgenspektrometer (EDX) for at sætte det i stand til at fungere som en elektronsonde og detektere reflekterede elektroner, røntgenstråler, katodoluminescens, transmitterede elektroner, Auger-elektroner osv. udsendte. af prøven. Udvidelse af anvendelsen af scanningselektronmikroskopi til forskellige mikroskopiske og mikroarealanalysemetoder har demonstreret multifunktionaliteten af scanningselektronmikroskopi. Derudover er det også muligt at analysere de udvalgte mikroområder af prøven, mens man observerer morfologibilledet; Ved at installere tilslutningen til halvlederprøveholderen kan PN-forbindelser og mikrodefekter i transistorer eller integrerede kredsløb observeres direkte gennem en billedforstærker med elektromotorisk kraft. På grund af implementeringen af elektronisk computer automatisk og semi-automatisk kontrol for mange scanning elektronmikroskop elektronprober, er hastigheden af kvantitativ analyse blevet væsentligt forbedret.
