Introduktion til Scanning Probe Mikroskop funktioner
Scanning Probe Microscope (Scanning Probe Microscope, SPM) er scanning tunneling mikroskop og i scanning tunneling mikroskop på grundlag af udviklingen af en række nye probe mikroskop (atomic force mikroskop AFM, laser kraft mikroskop LFM, magnetisk kraft mikroskop MFM og så videre) kollektivt, er den internationale udvikling af overfladen af analytiske instrumenter i de seneste år, er den omfattende brug af optoelektronik teknologi, laserteknologi, svag signaldetektionsteknologi, præcisionsmekanisk design og behandling, automatisk kontrolteknologi, digital signalbehandlingsteknologi , anvendt optisk teknologi, computer højhastigheds erhvervelse og kontrol og høj opløsning grafisk behandling teknologi og andre moderne videnskabelige og teknologiske resultater af optisk, mekanisk og elektrisk integration af højteknologiske produkter. Denne nye type mikroskopisk værktøj har indlysende fordele sammenlignet med forskellige mikroskoper og analytiske instrumenter i fortiden:
1, SPM har en meget høj opløsning. Det kan nemt "se" atomet, hvilket er svært at nå det generelle mikroskop og endda elektronmikroskop.
2, SPM er en real-time, ægte prøve overflade høj opløsning billede, er virkelig se atomet. I modsætning til nogle analytiske instrumenter udledes prøvens overfladestruktur ved indirekte eller beregningsmetoder.
3,SPM bruges i et afslappet miljø. Elektronmikroskop og andre instrumenter på arbejdsmiljøkravene til de mere krævende, prøven skal placeres i et højt vakuum forhold for at teste. SPM kan arbejde i vakuum, men også i atmosfæren, lav temperatur, stuetemperatur, høj temperatur og endda i opløsning. Derfor er SPM velegnet til videnskabelige eksperimenter i forskellige arbejdsmiljøer.
