Metallurgiske mikroskoper, der bruges i forskellige industrier
Først afledt af metallografi, dets hovedformål er at observere den metallografiske organisation af de professionelle instrumenter, er specifikt brugt til at observere den metallografiske organisation af uigennemsigtige objekter såsom metaller og mineraler mikroskop. Disse uigennemsigtige objekter kan ikke observeres i det almindelige transmitterede lysmikroskop, så den største forskel mellem metallografiske og almindelige mikroskoper er, at førstnævnte til reflekteret lys, mens sidstnævnte til transmitteret lys belysning.
Metallografisk mikroskop har egenskaberne god stabilitet, klar billeddannelse, høj opløsning, stort og fladt synsfelt. Det kan ikke kun foretage mikroskopisk observation på okularet, men også observere de dynamiske billeder i realtid på computerens (digitale kamera) skærm og redigere, gemme og udskrive de nødvendige billeder, som hovedsageligt bruges inden for hardware, udskæring, IC-komponenter, LCD/LED og så videre.
Fordi der er fem slags linser til metallurgisk mikroskop: EPI-lysfeltsfluorescens; BD lyst felt og mørkt felt; SLWD super lang arbejdsafstand; ELWD forbedret arbejdsafstand; med korrektionsring. I hardwareindustrien er der noget hardware, refleksionen er mere seriøs, du kan vælge BD-lysfelt og mørkfeltobjektiv til observation. Et andet eksempel, i LCD-industrien, observation og måling af ledende partikler, kan metallurgisk mikroskop også udstyres med DIC, som kan få objektet til at se mere tredimensionelt. Fordi det er med polariseret lys, to sæt filtre, dannelsen af polariseret lys mikroskop observation teknologi, i henhold til de dobbeltbrydende egenskaber, retningsbestemt ændring i retningen af lyset vej, selvfølgelig, polariseret kun med brug af DIC, individuelt har ringe betydning. Metallografisk mikroskop bruges til IC-komponenter, metallografiske sektioner og andre mikrostørrelsesmålinger og -analyser. Kan bruge intelligent software Iview-DIMS måling, høj præcision, effektivt reducere menneskelige fejl i måling. Let at lære og bruge, kan nemt opnå punkt, linje, bue, halv kæde, lige kæde, vinkel og andre relaterede dimensioner af ** måling og analyse, let at tage målebilleder og tilpasse en række testrapporter.
