Optisk mikroskop (OM) analyse
Billeddannelsesprincippet for et optisk mikroskop er at bruge synligt lys til at bestråle overfladen af et eksemplar, hvilket får lokal spredning eller reflektion til at danne forskellige kontraster. På grund af, at bølgelængden af synligt lys er så højt som {{0}} angstroms, er det naturligvis det værste med hensyn til opløsning (eller forskelsbehandling, opløsning, der henviser til den nærmeste afstand mellem to punkter, der kan løses). Under normal drift på grund af den visuelle forskelsbehandling på kun 0. 2 mm, når den optimale opløsning af et optisk mikroskop kun er 0,2 um, er den teoretiske maksimale forstørrelse kun 1000 x, hvilket er begrænset. Imidlertid er synsfeltet faktisk det største blandt forskellige billeddannelsessystemer, hvilket indikerer, at optisk mikroskopobservation stadig kan give mange foreløbige strukturelle data.
Maskintype
Analyseapplikation
Forstørrelse og opløsning af optiske mikroskoper, selvom de ikke er i stand til at imødekomme behovene hos mange materielle overfladeobservationer, er stadig vidt brugt i forskellige anvendelser, såsom:
Observation af tværsnitsstruktur af komponenter;
Analyse og observation af plane forsinkelsesstruktur;
Observation af præcipitant fri zone for bundfald;
Observation af differentielle ledninger og over ætset buler;
Forskning i oxidation forbedrede stablingsfejl (OSF).
