Forskellen mellem anvendelsen af opretstående metallografisk mikroskop og omvendt metallografisk mikroskop
Forskellen mellem anvendelsen af opretstående metallografisk mikroskop og omvendt metallografisk mikroskop
Forskellen mellem opretstående og omvendt er simpelthen, at den opretstående prøve er placeret under, og den omvendte prøve er placeret over. Opretstående objektiver peger ned, omvendte objektiver peger op.
Omvendt metallurgisk mikroskop, da prøvens observationsflade falder sammen med overfladen af arbejdsbænken nedad, observationsobjektivlinsen er placeret under arbejdsbænken og observeret opad, denne observationsform er ikke begrænset af prøvens højde, så længe en observationsoverfladen er flad, når prøven forberedes. Derfor er den meget brugt i fabrikslaboratorier, videnskabelige forskningsinstitutioner og gymnasier. Basen af det omvendte metallografiske mikroskop har et stort støtteområde, et lavt tyngdepunkt, stabil og pålidelig drift, og okularet og den støttende overflade er skråtstillet i 45 grader, hvilket gør observationen behagelig.
Det opretstående metallografiske mikroskop har de samme grundlæggende funktioner som det omvendte metallografiske mikroskop, bortset fra analyse og identifikation af metalprøver med en højde på 20-30mm, fordi det er i overensstemmelse med folks daglige vaner, er det mere udbredt i transparente , gennemskinnelig eller uigennemsigtig substans. Det opretstående metallurgiske mikroskop danner et positivt billede under observation, hvilket bringer stor bekvemmelighed til brugerens observation og identifikation. Ud over analyse og identifikation af metalprøver med en højde på 20-30mm, observationsmål større end 3 mikron og mindre end 20 mikron, såsom cermets, elektroniske chips, trykte kredsløb, LCD-substrater, film, fibre, granulerede genstande, belægninger og andre materialer på overfladen Strukturen og sporene kan have en god billeddannende effekt.
