Forskellen mellem opretstående metallografisk mikroskop og omvendt metallografisk mikroskop i anvendelse
Forskellen mellem den opretstående type og den omvendte type er simpelthen, at den opretstående prøve er placeret på bunden, og den omvendte prøve er placeret på toppen. Den opretstående objektivlinse peger nedad, og den omvendte objektivlinse peger opad.
I det omvendte metallografiske mikroskop, da observationsoverfladen af prøven falder sammen med overfladen af arbejdsbænken nedad, er observationsobjektivlinsen placeret under arbejdsbænken og observerer opad. Denne form for observation er ikke begrænset af prøvens højde. Ved forberedelse af prøven, så længe en observationsoverflade er flad, er den meget udbredt i fabrikslaboratorier, videnskabelige forskningsinstitutioner og skoler. Basen af det omvendte metallografiske mikroskop har et stort støtteområde, et lavt tyngdepunkt og er ekstremt stabil og pålidelig. Okularerne og den støttende overflade vippes 45 grader, hvilket gør observationen behagelig.
Det opretstående metallografiske mikroskop har de samme grundlæggende funktioner som det omvendte metallografiske mikroskop. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30mm, er det mere udbredt i gennemsigtige, gennemsigtige eller uigennemsigtige applikationer, fordi det er i overensstemmelse med folks daglige vaner. stof. Det opretstående metallografiske mikroskop producerer et opretstående billede under observation, hvilket bringer stor bekvemmelighed til brugerens observation og identifikation. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30mm, observationsmål større end 3 mikron og mindre end 20 mikron, såsom cermets, elektroniske chips, trykte kredsløb, LCD-substrater, film, fibre, granulære genstande , belægninger og andre materialeoverflader Strukturer og spor kan alle have gode billeddannelseseffekter.
Optisk fejlanalyse af mikroskoper
De to mikroskopbilleder overlapper ikke hinanden. I kikkert okularobservation forekommer nogle gange fænomenet med dobbeltbilleder, der ikke overlapper hinanden. Fænomenet med dobbeltbilleder, der ikke overlapper, betyder ikke noget, fordi længdekompensationen af de to linserør er inkonsekvent. Forstørrelsen af de to okularer er ret forskellig, og vibrationer under brug eller transport kan forårsage kikkertsvigt. Dette skyldes tre årsager, herunder prismets bevægelse. Af de to første grunde er de blevet kalibreret og udvalgt på fabrikken. De kan løses, så længe du er opmærksom på metoden og konfigurationen under brug.
Den tredje grund til mikroskopet er mere almindelig. På dette tidspunkt skal kikkerthuset åbnes, en krydslineal skal placeres på platformen, og 10X sigtekors okularer skal indsættes i venstre og højre linserør til observation, og kikkertprismets position og vinkel skal korrigeres . , og når kikkertokularerne drejes til forskellige vinkler for observation, er positionen af krydsskalaen i samme position i synsfeltet for venstre og højre okular og strammes derefter.
Når man observerer kikkert med et mikroskop, er lysstyrken og farven i venstre og højre synsfelt nogle gange inkonsistente, hvilket påvirker observationen. Dette skyldes, at den dikroiske film af det dikroiske prisme er blevet beskadiget. På dette tidspunkt skal det dikroiske prisme fjernes og sendes til mikroskopproducenten til gencoating før montering og brug. .
