Lodret og omvendt metallografisk mikroskopanvendelsesforskelle
Forskellen mellem lodret og omvendt er simpelthen, at den lodrette prøve er placeret nedenfor, og den omvendte prøve er placeret ovenfor. Det lodrette mål objektiv vender nedad, og den omvendte objektive linse vender opad.
Omvendt metallografisk mikroskop bruges ofte i fabrikslaboratorier, videnskabelige forskningsinstitutioner og universiteter, fordi observationsoverfladen af prøven falder sammen med overfladen af arbejdsbordet, og observationsmålet er placeret under arbejdsbordet, mens den observerer opad. Denne observationsform er ikke begrænset af prøvens højde, og kun en observationsoverflade er flad, når du forbereder prøven. Den omvendte metallografiske mikroskopbase har et stort understøttelsesområde, et lavt tyngdepunkt og er stabilt og pålideligt. Okulæret og understøttelsesoverfladen vippes ved 45 grader til behagelig observation.
Det lodrette metallografiske mikroskop har de samme grundlæggende funktioner som det omvendte metallografiske mikroskop. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30 mm, er det mere udbredt til gennemsigtige, halv gennemsigtige eller uigennemsigtige stoffer, fordi det er i overensstemmelse med menneskelige daglige vaner. Det lodrette metallografiske mikroskop producerer et positivt billede under observation, hvilket i høj grad letter brugerens observation og identifikation. Ud over at analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30 mm, der observerer mål større end 3 mikron og mindre end 20 mikron, såsom metalkeramik, elektroniske chips, kan trykte kredsløb, LCD -substrater, film, fibre, granulære genstande, belægninger og andre materialer, kan opnå gode imageringseffekter på deres overfladestrukturer og spor.
