Hvad er de faktorer, der påvirker måleenøjagtigheden, når belægningstykkelsesmåleren måler den tørre filmtykkelse?
1. Tykkelse af dækning af lag
Usikkerheden ved måling er et iboende kendetegn ved målingsmetoder til jordstrømstykkelsesmåling. For tyndere dækningslag (f.eks. Mindre end 25 μ m) er måleusikkerheden en konstant værdi, uafhængig af dækningslagets tykkelse, og usikkerheden ved hver måling er mindst 0. 5 μ m. For instrumentet spænder denne usikkerhed fra 0. 5 μ m til 1 μ m. For tykkere dækslag med en tykkelse på større end 25 μ m kræves et bestemt forhold mellem tykkelse. For dette instrument er usikkerheden 2% af dækningslagets tykkelse.
For dækslag med en tykkelse på mindre end eller lig med 5 μ m, skal tykkelsesværdien tages som gennemsnittet af flere målinger.
For dækslag med en tykkelse mindre end 3 μ m kan filmtykkelsesværdien ikke måles nøjagtigt.
2. Konduktivitet af basismetal
Målingsværdien af Eddy -strømtykkelsesmålemetoden påvirkes af ledningsevnen af basismetallet. Konduktiviteten af metaller er relateret til deres materialesammensætning og varmebehandling. Konduktivitetens indflydelse på måling varierer markant afhængigt af instrumentets producent og model. Målingen af dette instrument påvirkes minimalt af ledningsevnen af basismetallet.
3. tykkelse af basismetallet
Hvert instrument har en kritisk tykkelsesværdi for basismetallet, ud over hvilken den målte værdi ikke vil blive påvirket af en stigning i basismetaltykkelsen. Denne kritiske tykkelsesværdi afhænger af driftsfrekvensen for instrumentprobesystemet og ledningsevnen for basismetallet. Den kritiske tykkelsesværdi af dette instrument er cirka {{0}}. 3 ~ 0,4 mm.
Det er upålideligt at stable prøver med en basismetal tykkelse under det kritiske niveau med ikke -overtrukne materialer af samme materiale og tykkelse.
4. kanteffekt
Eddy -strømtykkemåleren er følsom over for overfladen af prøven. Målinger, der er for tæt på kanten af prøven, er upålidelige. Hvis det er nødvendigt at måle på en lille arealprøve eller en smal strimmelprøve, kan et ikke -overtrukket materiale med samme form bruges som substrat til at kalibrere instrumentet kalibrer. For dette instrument, når måleområdet er mindre end 150 mm2, eller prøvebredden er mindre end 12 mm, skal instrumentet kalibreres på det tilsvarende ikke -overtrukne materiale.
5. Kurvatur
Ændringen i krumningen af prøven vil påvirke den målte værdi. Jo mindre krumning af prøven, jo større er påvirkningen på den målte værdi. For dette instrument, når man måler prøver med en diameter mindre end 50 mm, skal instrumentet kalibreres på ikke -overtrukne materialer med samme diameter.
6. Surface Roughness
Overfladefremheden af basismetal- og dækslaget har indflydelse på de målte værdier. At tage gennemsnittet af flere målinger forskellige steder kan reducere denne påvirkning. Hvis overfladen af basismetallet er ru, skal instrumentets nulpunkt kalibreres ved flere positioner på det tilsvarende metalmateriale inden belægning.
