Hvad er de vigtigste egenskaber ved et metallografisk mikroskop
1. Det metallografiske mikroskop er specielt designet til alle inspektions- og måleopgaver ved inspektion af metaller og industrimaterialer.
2. Giver hovedsageligt reflektionsobservationskonfiguration for at imødekomme rutinedetektion og analyse af metallografiske prøver.
3. Den overordnede optiske vej understøtter en synsfeltdiameter på 20 mm.
4. Manuelt objektiv drejeskive med fire huller.
5. Sørg for halogenbelysning med indbygget 35W halogenlampe eller ekstern 100W transformer.
6. Kan give lysfelt og polariseret lys observationsmetoder.
7. Kan parres med Leicas objektiv linser af forskellige multipler. Kan udstyres med et fast prøvetrin eller et mobilt prøvetrin med tre bord. Det metallografiske mikroskop kan udstyres med kameraer, digitale kameraer og andre billedopsamlingsenheder for at opnå billedlagring og kan bruges sammen med analysesoftware til billedanalyse.
Det metallografiske mikroskop, med dets fuldautomatiske differentialinterferensfasekontrast (DIC) og 1,25x fuldfeltspejl, kan registrere selv små detaljer. Det ultra-dybe felt i høj opløsning giver et klart overblik over små detaljer og opfylder billedkravene til detektering af høj kvalitet.
Scanningelektronmikroskopi er lige så let at betjene som et digitalkamera, idet den opretholder høj opløsning og dybdeskarphed, samtidig med at der nemt opnås store forstørrelsesbilleder. Med de kraftige elektroniske optiske egenskaber ved scanningselektronmikroskopi hjælper det med at accelerere forskning i biovidenskab og fejlanalyse af forarbejdede materialer.
Denne enhed er nem at betjene i grundlæggende aspekter såsom autofokus, automatisk kontrastforhold og automatisk lysstyrkekontrol uden behov for særlige prøvebehandlingsforberedelser såsom coating eller tørring. Den har to driftstilstande højvakuum og lavvakuum samt tre accelerationsspændingsindstillinger, velegnet til forskellige anvendelsesområder. Alle disse kan programmeres i forudindstillede løsningsfiler, der bibeholder høj opløsning og stor dybdeskarphed, samtidig med at der nemt opnås store forstørrelsesbilleder. Den har den kraftfulde elektroniske optiske ydeevne som scanningselektronmikroskopi.
Scanningelektronmikroskopet udsender en elektronstråle (med en diameter på ca. 50um) fra en elektronkanon, som konvergeres af et magnetisk linsesystem under påvirkning af en accelererende spænding for at danne en elektronstråle med en diameter på 5nm. Den fokuseres på prøvens overflade, og under påvirkning af en afbøjningsspole mellem den anden fokuseringslinse og objektivlinsen gennemgår elektronstrålen en gitterlignende scanning på prøven. Elektronerne interagerer med prøven for at generere signalelektroner, som opsamles af detektoren og omdannes til fotoner. De forstærkes derefter af en elektrisk signalforstærker og afbildes på displaysystemet.
Strukturen af et scanningselektronmikroskop omfatter et elektronoptisk system, signalopsamling, billedvisning og optagelsessystem og et vakuumsystem. Denne del består hovedsageligt af en elektronkanon, elektromagnetisk linse, scanningsspole og prøvekammer. Elektronkanonen giver en stabil elektronkilde, der danner en elektronstråle. Generelt bruges en wolframkatodeelektronpistol, og en wolframtråd med en diameter på ca. 0,1 mm bøjes til en hårnåleform, der danner en V-formet spids med en radius på ca. 100 μm. Når glødetrådsstrømmen går igennem, opvarmes glødetråden, og når den når driftstemperaturen, udsender den elektroner. Højspænding påføres mellem katoden og anoden, og disse elektroner accelererer mod anoden og danner en elektronstråle. Under påvirkning af et elektrisk højspændingsfelt accelereres elektronstrålen gennem anodeaksehullet og går ind i det elektromagnetiske felt.
