Hvad er de to hovedkomponenter i den atomare kraft, der detekteres af atomkraftmikroskopet?
Der er forskellige kræfter mellem AFM-sonden og prøvens overfladeatomer, herunder van der Waals-kraft, frastødende kraft, elektrostatisk kraft, deformationskraft, magnetisk kraft, kemisk kraft osv. Når atomkraftmikroskopet anvendes, vil påvirkningen af van der Waals-kraften og den frastødende kraft vil blive elimineret; derudover, ud over de to ovennævnte kræfter, er de andre kræfter i sig selv relativt små.
Derfor er den atomkraft, der detekteres af atomkraftmikroskopet, hovedsageligt sammensat af van der Waals-kraft og frastødende kraft. Blandt dem er van der Waals-kraften tiltrækningen, og essensen af frastødningskraften er samspillet mellem atomer og elektronskyer, som i bund og grund er en kvanteeffekt.
