Hvad er forskellen mellem et metallografisk mikroskop og et scanningselektronmikroskop?
Et metallografisk mikroskop er et mikroskop, der bruges til at observere overfladen af en metalprøve (metallografisk struktur) med indfaldende belysning. Den kombinerer optisk mikroskopiteknologi, fotoelektrisk konverteringsteknologi og computer billedbehandlingsteknologi. Højteknologiske produkter kan nemt observere det metallografiske billede på computeren, så det metallografiske billede kan analyseres, graderes osv., og outputbilledet er. Et metallografisk mikroskop er en type optisk mikroskop. Sammenlignet med elektronmikroskopet er opløsningen mindre, mikronopløsningen er mindre, og forstørrelsen er mindre, men den er nem at betjene. Stort synsfelt, relativt lav pris.
Metallografisk mikroskop En ny type elektro-optisk instrument, der bruges til scanning elektronmikroskopi. Den har nem prøveforberedelse, justerbar forstørrelsesfeltbredde, høj billedopløsning, dybdeskarphed og mere. Scanning elektronmikroskopi har været meget brugt inden for biologi, medicin og metallurgi i årtier og har fremmet udviklingen af forskellige relaterede discipliner. Funktioner af scanning elektronmikroskop: elektronmikroskop, høj billedopløsning, nanoskala opløsning, justerbar forstørrelse og store, en anden vigtig funktion er stor dybdeskarphed og rige tredimensionelle billeder.
Der er store forskelle mellem metallografiske mikroskoper og scanningselektronmikroskoper, hovedsageligt i følgende aspekter:
1. Forskellige lyskilder: metallografiske mikroskoper bruger synligt lys som lyskilde, og scanningselektronmikroskoper bruger elektronstråler som lyskilde til billeddannelse.
2. Princippet er anderledes: Det metallografiske mikroskop bruger princippet om geometrisk optisk billeddannelse til at scanne, og scanningselektronmikroskopet bruger højenergielektronstråler til at bombardere overfladen af prøven for at excitere forskellige fysiske signaler på overfladen. prøve, og brug derefter forskellige signaldetektorer til at tage det fysiske signal og konvertere det til et billede. Information.
3. Opløsning: På grund af lysets interferens og diffraktion kan det metallografiske mikroskop kun begrænses til 0.2-0.5um. Scanningselektronmikroskopi bruger en elektronstråle som lyskilde, og dens opløsning kan nå 1-3nm. Derfor hører observation af mikrostruktur ved metallografisk mikroskop til mikronanalyse, og observation ved scanningelektronmikroskop hører til nanoskalaanalyse.
4. Dybdeskarphed: Dybdedybden af et generelt metallografisk mikroskop er mellem 2-3um, så det kræves, at prøvens overfladeglathed er ekstremt høj, så forberedelsesprocessen er relativt kompliceret. Dybdeskarpheden af SEM kan være så høj som flere.
