Hvad er den generelle målemetode for værktøjsmikroskoper?
1. Kartesisk koordinatmåling:
Ved måling skal den rektangulære koordinatretning af det objekt, der skal måles, være i overensstemmelse med bevægelsesretningen af det krydsformede bord, før måling kan udføres. Ved brug af kartesisk koordinatmåling kan den kartesiske koordinatværdi aflæses direkte fra bevægelsesmængden af krydsbevægelsesbordet. Hvis det er et stort værktøjsmikroskop, kan billedet på sigtehullet kartesisk koordinatmåling bruges til at forbinde observationsøjet til korrekt måling, og ved måling af objektets rette vinkel Ved korrektion af koordinatretningen og krydsbevægelsesbordet er meget praktisk at bruge det samlede roterende bord installeret på det store værktøjsmikroskop. Hvad angår det lille værktøjsmikroskop, er det kun drejebordet, der er fastgjort.
2. Vinkelmåling:
Det kan måles ved hjælp af et roterende bord eller en vinkelobservationslinse. Generelt set har vinkelobservationslinser bedre nøjagtighed.
3. Højdemåling:
Selvom et lille værktøjsmikroskop ikke kan måle højden, hvis et måleinstrument er fastgjort til den øverste ende af støtten, og højden måles ved at flytte mikroskopet op og ned. Det er dog meget vanskeligt at måle nøjagtigt på grund af fejl i fokusdybden, hældningen af støtten og fejlene mellem måleren og den optiske akse.
4. Måling af porediameter:
Generelt bruges en vinkelobservationslinse til måling, men til store værktøjsmikroskoper kan en overlejret billedobservationslinse eller en optisk detektor bruges. Det vil sige, at en overlejret billedlinse bruges til at overlappe de to genererede billeder, og så gælder det samme på den modsatte side. Derfor viser Mængden af bevægelse hullets indvendige diameter. Hvis der bruges en optisk detektor, skal du først installere den på en 3x objektlinse, derefter justere bevægelsesretningen for detektoren og arbejdsbordet, og derefter justere den overlappende linje i observationsspejlet, så den er parallel med observationslinsens trådkors. Måleelementet bringes i kontakt med huloverfladen. Til sidst bruges fremføringen på Y-aksen til at korrigere den omvendte bevægelse af den overlappende linje, og fremføringen på X-aksen bruges til at få den overlappende linje til at klemme observationslinsens ti underlinjer, således at målt værdi på X-aksen kan aflæses. Det samme gælder for hullet på den modsatte side, så forskellen mellem aflæsningerne plus diameteren af detektoren kan bruges til at få hullets indvendige diameter.
