Princippet for ultralydstykkelsesmåler og belægningstykkelsesmåler
Ultralydstykkelsesmålere er opdelt efter deres arbejdsprincipper: der er resonansmetode, interferensmetode og pulsreflektionsmetode. Da pulsreflektionsmetoden ikke involverer resonansmekanismen og ikke er tæt forbundet med overfladefinishen af det målte objekt, er ultralydspulsmetoden til tykkelsesmåling Instrumentet det mest populære instrument blandt brugere.
1 Arbejdsprincip
Ultralydstykkelsesmåleren består hovedsageligt af to dele: værten og sonden. Værtskredsløbet omfatter tre dele: sendekredsløb, modtagekredsløb og tællevisningskredsløb. Højspændingschokbølgen genereret af sendekredsløbet exciterer sonden til at generere ultralydstransmitterende pulsbølger. Pulsbølgerne reflekteres af mediumgrænsefladen og modtages af modtagerkredsløbet. Det flydende krystaldisplay viser tykkelsesværdien, som hovedsageligt er baseret på udbredelseshastigheden af lydbølgen i prøven ganget med halvdelen af den tid, der går gennem prøven for at opnå prøvens tykkelse.
HT-seriens ultrabølgetykkelsesmåler, der drives af vores fabrik, er et intelligent måleinstrument i lommestørrelse med lavt strømforbrug og lav grænse udviklet af single-chip-teknologi på grundlag af vedtagelse af avanceret teknologi i ind- og udland. Det har ikke kun instrumenter til at måle tykkelsen af forskellige materialer, og der er enkeltmålsstål, ultratynde, og kan udstyres med højtemperatur-tykkelsesmålesonder.
2 applikationer til tykkelsesmåler
På grund af bekvemmeligheden ved ultralydsbehandling og god retningsbestemmelse kan ultralydsteknologi måle tykkelsen af metal og ikke-metalmaterialer, hvilket er hurtigt, præcist og forureningsfrit, især i de tilfælde, hvor kun den ene side må røres, kan vise sin overlegenhed, meget udbredt i forskellige plader, rørvægtykkelser, kedelbeholderens vægtykkelse og lokal korrosion, rust, så til metallurgi, skibsbygning, maskiner, kemisk industri, elkraft, atomenergi og andre industrielle sektorer af produktinspektion,
Det spiller en stor rolle i sikker drift og moderne styring af udstyr.
Ultralydsrensning og ultralydstykkelsesmåler er kun en del af anvendelsen af ultralydsteknologi, og der er mange områder, der kan anvendes til ultralydsteknologi. Såsom ultralydsforstøvning, ultralydssvejsning, ultralydsboring, ultralydsslibning, ultralydsvæskeniveaumåler, ultralydsniveaumåler, ultralydspolering, ultralydsrensemaskine, ultralydsmotor og så videre. Ultralydsteknologi vil blive mere og mere udbredt i alle samfundslag.
Arbejdsprincip for hvirvelstrømsbelægningstykkelsesmåler
1. Grundlæggende principper
Det grundlæggende arbejdsprincip for hvirvelstrømsbelægningstykkelsesmåleren er, at når målehovedet er i kontakt med den målte prøve, forårsager det højfrekvente elektromagnetiske felt, der genereres af målehovedet, metallederen placeret under målehovedet til at generere hvirvelstrøm , og dens amplitude og fase er lederen. Det er en funktion af tykkelsen af den ikke-ledende belægning mellem hvirvelstrømmen og sonden. Det vil sige, at det vekslende elektromagnetiske felt, der genereres af hvirvelstrømmen, vil ændre parametrene for sonden, og størrelsen af parametervariablen for sonden, og konvertere dette elektriske signal for at opnå den målte belægning Tykkelsen af belægningen.
2. Årsager, der påvirker målenøjagtigheden
(1) Når tykkelsen af dæklaget er større end 25 μm, er fejlen tilnærmelsesvis proportional med tykkelsen af dæklaget;
(2) Grundmetallets elektriske ledningsevne har indflydelse på målingen, som er relateret til sammensætningen af basismetalmaterialet og varmebehandlingsmetoden;
(3) Enhver form for tykkelsesmåler kræver, at basismetallet har en kritisk tykkelse. Kun når den er større end denne tykkelse, vil målingen ikke blive påvirket af tykkelsen af basismetallet;
(4) Hvirvelstrømstykkelsesmåleren har en kanteffekt på prøvebestemmelsen, det vil sige, at målingen nær prøvens kant eller det indre hjørne er upålidelig.
(5) Prøvens krumning har indflydelse på målingen, og denne indflydelse vil naturligvis stige med faldet i krumningsradius;
(6) Overfladeruheden af basismetallet og dæklaget påvirker målingens nøjagtighed, og stigningen i ruheden øger påvirkningen;
(7) Hvirvelstrømstykkelsesmåleren er følsom over for de vedhæftede stoffer, der forhindrer tæt kontakt mellem sonden og overfladen af belægningen.
