Analyser individuelle komponenter i et enkelt oscilloskop
Nye muligheder for Rohde & Schwarz's R&S RTO- og R&S RTP-oscilloskoper kan hjælpe udviklingsingeniører med at få en dybere forståelse af hver jitter-komponent i deres transmissionsgrænseflader. Ingeniører kan nu adskille jitter i tilfældig og deterministisk jitter og se resultaterne fleksibelt for effektiv fejlfinding. Rohde & Schwarz bruger parametriske signalmodel-separationsalgoritmer til at opnå præcise målinger samt yderligere yderligere resultater.
Rohde & Schwarz har udviklet en innovativ og kraftfuld metode til at analysere de individuelle komponenter i jitter, hvilket giver kredsløbsdesignere en hidtil uset indsigt, der er ekstremt værdifuld, når de skal fejlfinde højhastighedssignaler.
Efterhånden som datahastighederne stiger og spændingsudsvingene falder, tegner jitter i digitale grænseflader en stor del af signalintervallet og bliver en potentiel kilde til fejl. Ingeniører har derfor i stigende grad brug for værktøjer, der nøjagtigt kan måle signaljitter, herunder adskille det i dets individuelle jitterkomponenter. Den nye R&S RTO-/RTP-K133 avancerede jitteranalysemulighed introducerer en analysemetode til at adskille individuelle jitterkomponenter, såsom tilfældig jitter og deterministisk jitter (såsom dataafhængig jitter og periodisk jitter). Denne tilgang er baseret på en parametrisk signalmodel, der fuldt ud karakteriserer transmissionsforbindelsen under test.
Kernefordelen ved Rohde & Schwarz' tilgang er, at dens jittermodel inkluderer de komplette bølgeformkarakteristika for signalet, der måles, hvorimod traditionelle tilgange reducerer dataene til et sæt af tidsafstande fejlmålinger. Derfor kan den nye metode opnå konsistente måledata selv for relativt korte signalsekvenser, såvel som tidligere utilgængelig information såsom trinsvar eller forskellen mellem vertikal og horisontal periodisk jitter. Ingeniører drager fordel af dybe detaljer af jitter-repræsentation, herunder syntetiske øjendiagrammer, histogrammer af alle individuelle jitter-komponenter, spektral- og peakvisninger af periodisk jitter og badekarplot til estimering af bitfejlfrekvenser.
Josef Wolf, senior vicepræsident og leder af oscilloskopdivisionen hos Rohde & Schwarz, sagde, at R&S RTO-/RTP-K133-muligheden vil blive hilst velkommen af markedet. "Vi er meget stolte af at bringe denne avancerede tilgang på markedet, som er den første reelle forbedring af oscilloskop-jitter-separation i næsten to årtier. Med den nye Advanced Jitter-komponent kan vi hjælpe ingeniører med at opnå bedre resultater," sagde han. Dens signaljitter-signatur har hidtil usete detaljeringsniveauer."
Denne nye jitter-separationskomponent udvider signalintegritetsfejlfindingskapaciteter for ingeniører og komplementerer branchens eneste integrerede tidsdomænereflektometri (TDR)/tidsdomænetransmission (TDT) målemetode og realtidsde-indlejringsmuligheder i et enkelt oscilloskop.
