Anvendelsesområder for metallurgiske mikroskoper på tværs af industrier
Afledt af metallografi er det metallurgiske mikroskop et professionelt instrument, der hovedsageligt bruges til at observere metallografiske strukturer. Den er designet til at undersøge den metallografiske mikrostruktur af uigennemsigtige prøver såsom metaller og mineraler. Disse uigennemsigtige prøver kan ikke observeres med almindelige transmitterende lysmikroskoper. Derfor ligger den vigtigste forskel mellem et metallurgisk mikroskop og et konventionelt mikroskop i belysning: førstnævnte bruger reflekteret lys, mens sidstnævnte er afhængig af transmitteret lys.
Metallurgiske mikroskoper har fremragende stabilitet, skarp billeddannelse, høj opløsning og et stort fladt synsfelt. Observation kan udføres ikke kun gennem okularerne, men også i realtid på skærmen på en computer eller digitalkamera. Optagne billeder kan redigeres, gemmes og udskrives. De anvendes i vid udstrækning inden for hardwarebehandling, metallografisk sektionering, IC-komponenter, LCD- og LED-industrier.
Der er fem almindelige objektivtyper for metallurgiske mikroskoper: EPI brightfield fluorescens, BD brightfield-darkfield, SLWD superlang arbejdsafstand, ELWD forlænget lang arbejdsafstand og objektiver med korrektionskraver. I hardwareindustrien er BD brightfield-darkfield objektiver velegnede til stærkt reflekterende metalemner. For eksempel, når man observerer og måler ledende partikler i LCD-industrien, kan det metallurgiske mikroskop udstyres med DIC til at producere stereoskopiske billeder. Dette system anvender polariseret lysteknologi ved hjælp af parrede filtre. Baseret på dobbeltbrydning ændrer den lysets retning på en kontrolleret måde. Polarisering i sig selv giver begrænsede fordele og fungerer bedst, når det kombineres med DIC.
Ved måling og analyse af små funktioner i IC-komponenter og metallografiske sektioner kan den intelligente målesoftware Iview-DIMS anvendes. Det leverer høj nøjagtighed og reducerer effektivt manuelle målefejl. Softwaren er brugervenlig og understøtter måling og analyse af punkter, linjer, buer, radier, diametre, vinkler og andre geometriske dimensioner. Det kan også tage målebilleder og generere brugerdefinerede testrapporter.
