Anvendelse af mikroskoper i LED-sektoren af strategiske nye industrier
LED (Light-Emitting Diode) er forkortelsen for light-emitting diode. Fra anden halvdel af 2009 opnåede LED-markedet hurtig vækst. Som en fremvoksende industri i høj vækst blev omfanget af LED-industrien fremskrevet til at overstige 500 milliarder RMB i 2015, herunder 160 milliarder RMB til generel belysning, 120 milliarder RMB til baggrundsbelysning af store LCD-fjernsyn, 20 milliarder RMB til bilbelysning og 100 milliarder RMB til skærme og andre landskabsbelysningssektorer.
LED-industrikæden kan groft opdeles i tre segmenter: opstrøms substratvækst og epitaksial wafer-fremstilling, midstream-chipemballage og nedstrømsapplikationsprodukter. Inden for hele den industrielle kæde er kerneleddene substratvækst og epitaksial waferfabrikation. Disse to segmenter har høj teknisk kompleksitet og tegner sig for næsten 70 % af industriens samlede outputværdi og overskud.
Udviklingstrend for LED-industrien
Påvirket af både internationale og indenlandske markeder og fremmet af National Semiconductor Lighting Project, har Kinas LED-industri oprindeligt dannet en relativt komplet industriel kæde, der dækker opstrøms substratmaterialer, LED-epitaksial wafer-produktion, LED-chipfremstilling, LED-chipemballage og LED-produktapplikationer.
Som vi alle ved, har halvlederlysemitterende dioder høj konverteringseffektivitet og lang levetid. De betragtes som næste generations lyskilder, der vil erstatte konventionelle lyskilder, der i øjeblikket er i brug. Ikke desto mindre, at dømme ud fra LED'ernes nuværende ydeevne, er der stadig mange tekniske udfordringer, der skal overvindes for at nå dette mål, hvilket kræver intensiveret forskning i materialekarakterisering og enhedsanalyseteknologier. Til analytiske teknikker rettet mod emballagestrukturer, chipstrukturer, sammensætninger og grænsefladeforhold for LED-enheder, tjener udstyr såsom optiske mikroskoper, scanningselektronmikroskoper, røntgenenergispektrometre og sekundære ionmassespektrometre som uundværlige analytiske værktøjer til enhedsfejl og strukturel analyse samt overvågning, forbedring og optimering af epitaxial processer.
