At vælge mellem opretstående og omvendte mikroskoper
Metallografiske mikroskoper, også kendt som materialemikroskoper, bruges hovedsageligt til at observere mikrostrukturen af metaller. De er klassificeret i opretstående metallografiske mikroskoper og omvendte metallografiske mikroskoper.
Det opretstående metallografiske mikroskop danner et oprejst billede under observation, hvilket giver stor bekvemmelighed for brugerne at observere og identificere prøver. Den kan analysere og identificere metalprøver med en højde på 20-30 mm. I overensstemmelse med folks daglige seervaner anvendes den i vid udstrækning til gennemsigtige, gennemskinnelige og uigennemsigtige stoffer. Den leverer fremragende billeddannelsesresultater for observationsmål fra mere end 3 μm til mindre end 20 μm, såsom overfladestrukturer og spor af metalkeramik, elektroniske chips, trykte kredsløb, LCD-substrater, tynde film, fibre, granulære materialer og belægninger. Desuden kan det eksterne kamerasystem nemt forbindes til en skærm og en computer til real-time og statisk billedvisning, lagring, redigering og udskrivning. Kombineret med forskellig software kan den opfylde kravene til professionel metallografi, måling og interaktiv undervisning.
Det omvendte metallografiske mikroskop anvender optisk planbilleddannelse til at identificere og analysere mikrostrukturen af forskellige metaller og legeringer. Det er et vigtigt værktøj til metallografisk forskning i metalfysik. Udbredt i fabrikker og laboratorier udfører den støbekvalitetsinspektion, råmaterialetestning og forskning og analyse af metallografiske strukturer af materialer efter procesbehandling, hvilket giver intuitive analyseresultater. Det er kritisk udstyr til kvalitetsidentifikation og analyse af støbning, smeltning og varmebehandling i minedrift, metallurgi, fremstilling og mekanisk forarbejdningsindustri.
I de senere år har mikroelektronikindustrien krævet høj forstørrelse planar mikroskopisk teknologi for at understøtte chipproduktion. Derfor er metallografiske mikroskoper blevet introduceret og populariseret på dette område med løbende forbedringer for at imødekomme særlige industrielle krav.
For inverterede metallografiske mikroskoper vender observationsoverfladen på prøven nedad og passer i plan med arbejdsbordets overflade. Objektivet er monteret under arbejdsbordet og observerer opad. Denne observationstilstand er ikke begrænset af prøvens højde. Instrumentet er nemt at betjene med et kompakt og elegant udseende. Den har et stort basislejeområde og et lavt tyngdepunkt for stabil og pålidelig drift. Okularet vipper 45 grader i forhold til lejefladen for at give behagelig observation.
