Hvordan vælger man et mikroskop, der passer til dine behov?
Inden for videnskabelig forskning og analytisk testning er mikroskoper utvivlsomt uundværlige værktøjer og er kendt som "videnskabens øje". Det gør det muligt for mennesker at udforske den mikroskopiske verden, der ikke kan skelnes med det blotte øje, og giver nøgleteknologisk støtte til områder som materialeforskning, biomedicin og industriel testning. Stillet over for forskellige forskningsbehov er det blevet et problem for mange forskere, hvordan man vælger det passende mikroskop.
Dette mikroskop bruger en-højtrykselektronstråle som lyskilde og fokuserer billeddannelse gennem en elektromagnetisk linse. Dens forstørrelse kan nå millioner af gange, og dens opløsning kan endda nå niveauet af ångstrøm (Å) (1 Å er lig med 0,1 nanometer), hvilket er tilstrækkeligt til at observere strukturelle træk på atomniveau.
Arbejdsprincippet for transmissionselektronmikroskopi ligner det for optisk mikroskopi, men det bruger elektronstråler i stedet for synligt lys og elektromagnetiske linser i stedet for optiske linser. På grund af det faktum, at elektroniske bølger er langt mindre end bølgelængden af synligt lys, ifølge Abbe-diffraktionsgrænseteorien, er deres opløsning blevet væsentligt forbedret, hvilket har opnået den ultimative udforskning af den mikroskopiske verden.
Moderne transmissionselektronmikroskopi-teknologi har udviklet sig hurtigt, hvilket har givet anledning til forskellige avancerede modeller: scanningstransmissionselektronmikroskopi (STEM) kombinerer fordelene ved både scannings- og transmissionstilstande; Ultrahurtig transmissionselektronmikroskopi (UTEM) kan bruges til at studere ultrahurtige dynamiske processer; Frossen transmissionselektronmikroskopi (FTEM) er særligt velegnet til undersøgelse af biomolekyler; In situ transmission elektronmikroskopi (TEM) kan observere realtidsændringer i prøver under eksterne stimuli; Sfærisk aberrationskorrektion transmissionselektronmikroskopi (CTEM) forbedrer opløsningen yderligere ved at korrigere linseaberrationer.
Det skal bemærkes, at transmissionselektronmikroskopi, som et høj-præcisionsinstrument, har karakteristika for høje omkostninger, kompleks drift og strenge prøveforberedelseskrav. Prøven skal forberedes i ekstremt tynde (normalt mindre end 100 nanometer) skiver for at tillade elektronstrålegennemtrængning.
scanning elektronmikroskop
Hvis forskningsskalaen er i intervallet fra snesevis af nanometer til millimeter og hovedsageligt fokuserer på prøvens overflademorfologiske karakteristika, er scanningselektronmikroskopi (SEM) et mere passende valg. Dette mikroskop har et bredt forstørrelsesområde (normalt fra 10x til 300000 gange), som kan opfylde de fleste behov for morfologiobservation, elementaranalyse, mikrostrukturanalyse og så videre.
Arbejdsprincippet for scanningselektronmikroskopi er at scanne prøveoverfladen punkt for punkt med en elektronstråle og derefter detektere signaler såsom sekundære elektroner og tilbagespredte elektroner genereret af prøven for at danne et billede
