Lad os lære om typerne af elektronmikroskoperLad os lære om typerne af elektronmikroskoper
Elektronmikroskoper kan opdeles i transmissionselektronmikroskoper, scanningselektronmikroskoper, refleksionselektronmikroskoper og emissionselektronmikroskoper i henhold til deres strukturer og anvendelser.
Transmissionselektronmikroskoper bruges ofte til at observere små materialestrukturer, der ikke kan skelnes med almindelige mikroskoper; scanningselektronmikroskoper bruges hovedsageligt til at observere morfologien af faste overflader, og kan også kombineres med røntgendiffraktometre eller elektronenergispektrometre for at danne elektron Mikroprober bruges til materialesammensætningsanalyse; emissionselektronmikroskoper bruges til undersøgelse af selvemitterende elektronoverflader.
1. Transmissionselektronmikroskop
Den er opkaldt efter, at elektronstrålen trænger ind i prøven og derefter bruger en elektronlinse til at afbilde og forstørre billedet. Dens lysbane ligner den for et optisk mikroskop, og den kan direkte opnå projektionen af en prøve. Ved at ændre objektivets linsesystem kan man direkte forstørre billedet ved objektivets brændpunkt.
Herfra kan man få elektrondiffraktionsbilleder. Dette billede kan bruges til at analysere prøvens krystalstruktur. I denne type elektronmikroskop dannes kontrasten af billeddetaljer ved spredning af elektronstrålen af prøvens atomer. Da elektronerne skal rejse gennem prøven, skal prøven være meget tynd.
Tykkelsen af prøven bestemmes af atomvægtene af de atomer, der udgør prøven, spændingen, hvormed elektronerne accelereres, og den ønskede opløsning. Tykkelsen af prøven kan variere fra nogle få nanometer til flere mikrometer.
Jo højere atomvægt og jo lavere spænding, jo tyndere skal prøven være. Den tyndere eller lavere tæthedsdel af prøven har mindre elektronstrålespredning, så flere elektroner passerer gennem objektivlinsens blænde og deltager i billeddannelsen, hvilket får billedet til at se lysere ud. Omvendt vil tykkere eller tættere dele af prøven se mørkere ud på billedet. Hvis prøven er for tyk
2. Scanning elektronmikroskop
Elektronstrålen i et scanningselektronmikroskop passerer ikke gennem prøven, men fokuserer kun elektronstrålen på et lille område af prøven så meget som muligt, og scanner derefter prøven linje for linje. De indfaldende elektroner får sekundære elektroner til at blive exciteret fra prøveoverfladen.
Det, mikroskopet observerer, er elektronerne spredt fra hvert punkt. Scintillationskrystallen, der er placeret ved siden af prøven, modtager disse sekundære elektroner og forstærker dem for at modulere billedrørets elektronstråleintensitet og derved ændre lysstyrken på billedrørets fluorescerende skærm. Billedet er et tredimensionelt billede, der afspejler prøvens overfladestruktur.
Billedrørets afbøjningsspole fortsætter med at scanne synkront med elektronstrålen på overfladen af prøven, så billedrørets fluorescerende skærm viser det topografiske billede af prøveoverfladen, hvilket svarer til arbejdsprincippet for industrielt tv. Da elektronerne i et sådant mikroskop ikke skal transmitteres gennem prøven, behøver spændingen, hvormed de accelereres, ikke være særlig høj.
3. Elektronisk digitalt mikroskop
Generelt set burde digitale mikroskoper strengt taget tilhøre kategorien optiske mikroskoper. Det digitale mikroskop er et højteknologisk produkt udviklet med succes ved perfekt at kombinere banebrydende optisk mikroskopteknologi, avanceret fotoelektrisk konverteringsteknologi og LCD-skærmteknologi. Som et resultat heraf kan vi reproducere forskningen i det mikroskopiske felt fra traditionel almindelig kikkertobservation til monitoren og derved forbedre arbejdseffektiviteten.
