Test af kondensatorlækstrøm med multimeterspændingsområde
DC-spændingsområdet for et digitalt multimeter bruges ikke kun til at måle spænding, men også til at detektere kondensatorer. Måling af kapacitans ved hjælp af spændingsområde er faktisk en indirekte målemetode, som kan måle kondensatorer med små kapaciteter fra 220pF til 1 μF og nøjagtigt måle kondensatorens lækstrøm.
1. Målemetoder og -principper. Målekredsløbet er vist i figur 1, hvor E er et eksternt 1,5V tørbatteri. Indstil det digitale multimeter til DC-spændingen på 2V, tilslut den røde sonde til den ene elektrode på den testede kondensator Cx, og tilslut den sorte sonde til den negative pol på batteriet. Indgangsmodstanden Ri for 2V gear er 10M Ω. Da spændingen over Ri er instrumentets indgangsspænding VIN, fungerer Ri faktisk også som en prøvemodstand. Hvis lækstrømmen for den målte kondensator er ID, og den stabile værdi, der vises af instrumentet, er VC (enhed: V), så
Her er et eksempel til illustration:
Eksempel 1: Den testede kondensator er en fast kondensator med en kapacitans på 1 μ F/160V. Brug det digitale multimeter DT930FD med et 2V/DC-område (=10M Ω) til at forbinde kredsløbet i henhold til figur 1. Først viste instrumentet 1,521V, og derefter faldt den viste værdi gradvist. Efter ca. 1 minut stabiliserede den viste værdi sig på 0,0027V. Baseret på dette blev lækstrømmen for den testede kondensator beregnet: lækstrømmen af den testede kondensator var kun 0,3nA, hvilket indikerer god kvalitet.
Eksempel 2: Den testede kondensator er en 0,022 μ F/63V polyesterkondensator, og målemetoden er den samme som ovenfor. På grund af kondensatorens lille kapacitet falder VIN (t) hurtigt under måling. Efter ca. 4 sekunder falder den viste værdi til 0,0019V. Den beregnede lækstrøm er:
Lækstrømmen er meget lille, hvilket indikerer god kvalitet.
2. Forholdsregler
(1) Før måling skal kondensatorens to ben kortsluttes og aflades, ellers kan processen med at læse ændringer
ikke overholdes.
(2) Under måleprocessen må du ikke røre ved kondensatorelektroden med begge hænder for at undgå instrumentspring.
(3) Under måleprocessen ændres værdien af VIN (t) eksponentielt, aftager hurtigt i begyndelsen og gradvist aftager over tid. Når kapaciteten af den testede kondensator Cx er mindre end et par tusinde picofarads, på grund af det hurtige fald i VIN (t) i begyndelsen og den lave målehastighed af instrumentet, er der ikke tid til at afspejle den oprindelige spændingsværdi. Derfor er den oprindelige viste værdi for instrumentet lavere end batterispændingen E.
(4) Når den målte kondensator Cx er større end 1 μF, kan modstandstilstand bruges til måling for at forkorte måletiden. Men når kapaciteten af den testede kondensator er mindre end 200pF, er det svært at observere opladningsprocessen på grund af den korte ændring i aflæsningen.
