Hvad er de generelle procedurer for måling med værktøjsmikroskoper?
1. Kartesisk koordinatmåling:
Målingen kan kun udføres, når den kartesiske koordinatretning af det målte objekt stemmer overens med bevægelsesretningen for det krydsformede arbejdsbord. Ved brug af kartesisk koordinatmåling kan de kartesiske koordinatværdier aflæses direkte ved bevægelsen af det tværgående arbejdsbord. For store værktøjsmikroskoper kan billedet på sigtehullet kartesisk koordinatmåling forbindes med observationsøjet for korrekt måling. Ved kalibrering af den kartesiske koordinatretning af det målte objekt og det krydsbevægelige arbejdsbord er det meget praktisk at bruge et samlet roterende arbejdsbord installeret på det store værktøjsmikroskop. Til små værktøjsmikroskoper er kun tilbehøret til det roterende arbejdsbord nødvendigt.
2. Vinkelmåling:
Målingen kan foretages ved hjælp af et roterende arbejdsbord eller en vinkelobservationslinse. Generelt er nøjagtigheden af vinkelobservationslinser bedre.
3. Højdemåling:
Selvom et lille værktøjsmikroskop ikke kan måle højden, kan højden måles, hvis et sølvmåleinstrument monteres på den øverste ende af en støttesøjle og derefter flyttes op og ned ved hjælp af mikroskopet. Men på grund af faktorer som brændvidde, søjlehældning og fejl mellem sølvmåling og optisk akse, er det ret svært at bestemme nøjagtigt.
4. Blændemåling:
Generelt bruges vinkelobservationslinser til måling, men store værktøjsmikroskoper kan bruge overlappende billedobservationslinser eller optiske detektorer, som bruger overlappende billedlinser til at generere to overlappende billeder og derefter gøre det samme på den modsatte side. Derfor kan den indre diameter af hullet vises ved mængden af bevægelse. Hvis der bruges en optisk detektor, skal du først installere den på en 3x objektlinse, justere den efter detektorens og arbejdsbordets bevægelsesretning, og derefter justere overlapningslinjen inde i observationsspejlet, så den er parallel med observationslinsens trådkors, så detektoren kommer i kontakt med huloverfladen. *Brug derefter feedet på Y--aksen til at korrigere den omvendte bevægelse af den overlappende linje, og brug X--aksens feed til at klemme de ti underlinjer i observationslinsen mellem de overlappende linjer for at aflæse de målte værdier på X--aksen. Det samme gælder for hullerne på den modsatte side, så hullets indvendige diameter kan opnås ved at lægge forskellen i aflæsninger til sondens diameter.
Hvad er værktøjsmikroskopets måleobjekt?
1. Mål formen på forskellige støbte dele såsom skabeloner, skabelonskæreværktøjer, skabelonfræsere, matricer og knaster.
2. Mål stigningen, diameteren, stigningen og den halve vinkel på det udvendige gevind (gevindpropmåler, skrue, snekke osv.).
3. Mål ledningen, tandprofilen og tandvinklen på tandhjulsrullende fræser.
4. Mål placeringen af huller på printplader, borematricer eller åbningsplader, såvel som symmetrien af nøglespalter og andre positionsfejl.
