+86-18822802390

Hvilke stoffer bruges hovedsageligt til at observere med scanningselektronmikroskoper?

Dec 05, 2023

Hvilke stoffer bruges hovedsageligt til at observere med scanningselektronmikroskoper?

 

Scanningselektronmikroskopet (SEM) blev opfundet i 1965 og bruges hovedsageligt til cellebiologisk forskning. Den bruger hovedsageligt sekundær elektronsignalafbildning til at observere prøvens overflademorfologi, det vil sige, den bruger en ekstremt smal elektronstråle til at scanne prøven. Interaktionen med prøven frembringer forskellige effekter, hvoraf først og fremmest prøvens sekundære elektroner er.


Sekundære elektroner kan producere et forstørret topografisk billede af prøveoverfladen. Dette billede etableres i tidssekvens, når prøven scannes, dvs. det forstørrede billede opnås ved brug af punkt-for-punkt-billeddannelse.


Scanning elektronmikroskopi (SEM) er en mikroskopisk morfologisk observationsmetode mellem transmissionselektronmikroskopi og optisk mikroskopi. Det kan direkte bruge materialeegenskaberne af prøveoverfladematerialer til mikroskopisk billeddannelse. Fordelene ved scanningselektronmikroskopet er: ① Det har en høj forstørrelse, som kan justeres kontinuerligt mellem 20 og 200,000 gange; ② Den har en stor dybdeskarphed, et stort synsfelt og et tredimensionelt billede og kan direkte observere de ujævne overflader af forskellige prøver. Fin struktur; ③ Prøveforberedelse er enkel. Nuværende scanningselektronmikroskoper er udstyret med røntgenenergispektrometerenheder, som kan observere mikrostrukturmorfologien og mikroregionkomponentanalysen (dvs. SEM-EDS) på samme tid, så det er nutidens Et af de vigtigste videnskabelige forskningsinstrumenter.


⑴ Biologi: frø, pollen, bakterier...


⑵ Medicin: blodceller, vira...


⑶Dyr: tyktarm, villi, celler, fibre...


⑷Materialer [1]: Keramik, polymerer, pulvere, metaller, metalindeslutninger, epoxyharpiks...


⑸Kemi, fysik, geologi, metallurgi, mineraler, slam (baciller), maskiner, motorer og ledende prøver, såsom halvledere (IC, linjebreddemåling, tværsnit, strukturobservation...) elektroniske materialer osv.

 

3 Digital Magnifier -

Send forespørgsel